Imperial College London

DrJamilEl-Imad

Faculty of EngineeringDepartment of Electrical and Electronic Engineering

Honorary Senior Research Fellow
 
 
 
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Contact

 

j.el-imad

 
 
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Location

 

City and Guilds BuildingSouth Kensington Campus

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Summary

 

Publications

Citation

BibTex format

@misc{El-Imad:2013,
author = {El-Imad, J},
title = {WO2013160706},
type = {Patent},
year = {2013}
}

RIS format (EndNote, RefMan)

TY  - PAT
AB - (EN)A method of gathering data to detect or predict the onset of a neurological episode comprising: receiving a neurological electrical input comprising a digital representation of a neurologically derived signal; and selecting at least one optimising parameter derived from analysis of data collected during an inter-ictal period.(FR)L'invention concerne un procédé de collecte de données pour détecter ou prédire l'apparition d'un épisode neurologique, comprenant : la réception d'une entrée électrique neurologique comprenant une représentation numérique d'un signal d'origine neurologique ; et la sélection d'au moins un paramètre d'optimisation déduit d'une analyse de données collectées pendant une période interictale.
AU - El-Imad,J
PY - 2013///
TI - WO2013160706
ER -